型號(hào)：XTD

X光膜厚儀測(cè)厚儀

描述：X光膜厚儀測(cè)厚儀是集多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿足貴金屬成分檢測(cè)的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成。貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位，滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時(shí)間
2024-04-27
訪問(wèn)量
890

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝

X光膜厚儀測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

X光膜厚儀測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1％。
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1％。

標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg