儀器介紹：

天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中國(guó)古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測(cè)量特性，我公司根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。

EDX8000L型儀器在測(cè)試陶瓷的同時(shí)亦可以測(cè)試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到一機(jī)多用，是古文物檢測(cè)的科學(xué)檢測(cè)儀器。中國(guó)歷史博物館、中國(guó)收藏家協(xié)會(huì)等古文物收藏部門都是其用戶。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L技術(shù)指標(biāo)：    

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

同時(shí)分析元素：同時(shí)可以分析30種以上元素

測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量薄至0.01微米

測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體

測(cè)量時(shí)間：30s—200s 

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

輸入電壓：AC 110V/220V 

消耗功率：200W  

環(huán)境溫度: 15-26℃ 

相對(duì)濕度: ≤70%

標(biāo)準(zhǔn)配置：

超薄窗大面積的Fast SDD探測(cè)器

數(shù)字多道系統(tǒng)

可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

內(nèi)置高清晰攝像頭

加強(qiáng)的金屬元素感度分析器

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單

面光源

放大電路

高低壓電源

X光管

多變量非線性回歸程序

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

三重安全保護(hù)模式

外觀尺寸：800×710×1360 mm

樣品腔尺寸：590×550×600mm

重量：280kg

應(yīng)用領(lǐng)域：

古陶瓷

古青銅器

古首飾

鍍層測(cè)厚